Setup for shot noise measurements in carbon nanotubes

Setup for shot noise measurements in carbon nanotubes
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碳纳米管散粒噪声测量装置

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
P. Hakonen
P. Hakonen
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Fan Wu;L. Roschier;T. Tsuneta;M. Paalanen;Taihong Wang;P. Hakonen

文献摘要

被引文献

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我们已经建立了一个高阻抗碳纳米管样品的噪声测量装置。我们的设置工作在600 - 900 MHz的频率范围内，利用了散粒噪声功率对于高阻抗源来说相当大的事实，因此可以容忍相对较大的固定非匹配条件。
We have constructed a noise measurement setup for high impedance carbon nanotube samples. Our setup, working in the frequency range of 600 - 900 MHz, takes advantage of the fact that the shot noise power is reasonably large for high impedance sources so that relatively large, fixed non-matching conditions can be tolerated.