リザーバ構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷の数値シミュレーションによるしきい電流密度の評価
リザーバ構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷の数値シミュレーションによるしきい電流密度の評価
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水库结构布线电迁移损伤数值模拟评估阈值电流密度
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
鵜沼 潤
中科院分区：
文献类型：
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作者：
笹川和彦;柳 貴裕;鵜沼 潤
