M. Yasutaka, D. Aoki, and M.Fujihira: "Surface Potential Measurements using the Kelvin Probe Force Microscope(KFM)" Thin Solid Films,. (in press).
M. Yasutaka, D. Aoki, and M.Fujihira: "Surface Potential Measurements using the Kelvin Probe Force Microscope(KFM)" Thin Solid Films,. (in press).
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M. Yasutaka、D. Aoki 和 M.Fujihira：“使用开尔文探针力显微镜 (KFM) 进行表面电位测量”固体薄膜。
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