Observation of change in field emission microscope image and Fowler-Nordheim plot with in situ analyzer of field emission properties
Observation of change in field emission microscope image and Fowler-Nordheim plot with in situ analyzer of field emission properties
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使用场发射特性原位分析仪观察场发射显微镜图像和 Fowler-Nordheim 图的变化
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Isihkawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Gotoh;M. Kawasaki;H. Tsuji;J. Isihkawa
