PZT薄膜におけるリーク電流特性の温度依存性
PZT薄膜におけるリーク電流特性の温度依存性
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PZT 薄膜漏电流特性的温度依赖性
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
岡村総一郎
中科院分区:
文献类型:
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作者:
畠希;大塚尚之;佐々木敏夫;橋爪洋一郎;中嶋宇史;岡村総一郎