歪み補償系多重積層Ge/Si1-xCx自己形成量子ドットの構造評価
歪み補償系多重積層Ge/Si1-xCx自己形成量子ドットの構造評価
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应变补偿多层Ge/Si1-xCx自组装量子点的结构评估
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
後藤和泰，大島隆治，菅谷武芳，坂田功，松原浩司，近藤道雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kazuhiro Gotoh;Ryuji Oshima;Isao Sakata;Takeyoshi Sugaya;Koji Matsubara and Michio Kondo;後藤和泰，大島隆治，菅谷武芳，坂田功，松原浩司，近藤道雄
