Phase Transmission Electron Microscopy with Aberration Correction Based on Active Defocus Modulation
Phase Transmission Electron Microscopy with Aberration Correction Based on Active Defocus Modulation
复制标题
基于主动散焦调制的像差校正相位透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takai et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Mitani;K.Sakai;Y.Takai et al.
