Carbon impurity concentrations in BaSnO 3 films grown by molecular beam epitaxy using a tin oxide source
Carbon impurity concentrations in BaSnO 3 films grown by molecular beam epitaxy using a tin oxide source
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使用氧化锡源通过分子束外延生长的 BaSnO 3 薄膜中的碳杂质浓度
DOI：
10.1116/6.0000122
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发表时间：
2020
影响因子：
2.9
通讯作者：
Stemmer, Susanne
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wu, Wangzhou;Combs, Nicholas G.;Mates, Thomas E.;Stemmer, Susanne
