Structural transition in sputter-deposited amorphous germanium films by aging at ambient temperature: TEM analysis and MD simulation
Structural transition in sputter-deposited amorphous germanium films by aging at ambient temperature: TEM analysis and MD simulation
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溅射沉积非晶锗薄膜在环境温度下老化引起的结构转变：TEM 分析和 MD 模拟
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
奥川将行，仲村龍介，沼倉宏，石丸学，保田英洋
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Okugawa;R. Nakamura;M. Ishimaru;H. Yasuda;H. Numakura;仲村龍介，奥川将行，沼倉宏，石丸学，保田英洋;奥川将行，仲村龍介，沼倉宏，石丸学，保田英洋
