ホログラフィック干渉顕微鏡を用いた電極近傍でのイオン濃度その場測定
ホログラフィック干渉顕微鏡を用いた電極近傍でのイオン濃度その場測定
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利用全息干涉显微镜原位测量电极附近的离子浓度
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
上田幹人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
西川慶;齋藤貴樹;松島永佳;上田幹人
