T.Ito: "Quantum yield of electron-beam induced decomposition of SiO_2 overlay on Si in nanolithograpy using scanning tunneling microscope"Jpn.J.Appl.Phys.. 40・10. 6055-6058 (2001)
T.Ito: "Quantum yield of electron-beam induced decomposition of SiO_2 overlay on Si in nanolithograpy using scanning tunneling microscope"Jpn.J.Appl.Phys.. 40・10. 6055-6058 (2001)
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T.Ito：“使用扫描隧道显微镜的纳米光刻中硅上的 SiO_2 覆盖层的电子束诱导分解的量子产率”Jpn.J.Appl.Phys.. 40・10 (2001)。
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