(001)GaAs基板上のGaAs1-xBix薄膜の構造評価(1)熱処理した低温成長GaAs1-xBix薄膜中の欠陥のTEM評価
(001)GaAs基板上のGaAs1-xBix薄膜の構造評価(1)熱処理した低温成長GaAs1-xBix薄膜中の欠陥のTEM評価
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(001) GaAs 衬底上 GaAs1-xBix 薄膜的结构评估 (1) 热处理、低温生长的 GaAs1-xBix 薄膜缺陷的 TEM 评估
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
富永依里子
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上田修;池永訓昭;堀田行紘;高垣佑斗;西山文隆;行宗詳規;石川史太郎;富永依里子
