外場誘起相転移を示すVO2薄膜の実動作下 X 線回折 (Operando x-ray diffraction study in VO2 thin-film with external field induced phase transition)
外場誘起相転移を示すVO2薄膜の実動作下 X 線回折 (Operando x-ray diffraction study in VO2 thin-film with external field induced phase transition)
复制标题
外场诱导相变 VO2 薄膜的原位 X 射线衍射研究
DOI：
--
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
奥山大輔
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Tsunemi;N. Yokota;S. Majima;K.Ikeda;T. Katayama;H. Kawaguchi;奥山大輔
