M.Miura, T.Chida, M.Sato, S.Taneya, and M.Shinozaki: "Digital lmage Analysis of Crumb Grain of Commercial White Pan Breads Using Multiple lmage Binarization Method and2D-DFT Method" Cereal Foods World. 42(8). 611-612 (1997)
M.Miura, T.Chida, M.Sato, S.Taneya, and M.Shinozaki: "Digital lmage Analysis of Crumb Grain of Commercial White Pan Breads Using Multiple lmage Binarization Method and2D-DFT Method" Cereal Foods World. 42(8). 611-612 (1997)
复制标题
M.Miura、T.Chida、M.Sato、S.Taneya 和 M.Shinozaki：“使用多图像二值化方法和二维 DFT 方法对商业白盘面包的碎粒进行数字图像分析”谷物食品世界。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
