SiO_<2>ガラスの超高圧下その場X線回折測定
SiO_<2>ガラスの超高圧下その場X線回折測定
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超高压下SiO_<2>玻璃的原位X射线衍射测量
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐藤友子
中科院分区：
文献类型：
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作者：
水上知行;榎並正樹;毛利崇;Simon Wallis;佐藤友子
