K.Miura: "Automatic EB fault tracing system by successive circuit extraction from VLSI CAD layout data" Proc.Symposium on LSI Testing. 99-104 (1997)
K.Miura: "Automatic EB fault tracing system by successive circuit extraction from VLSI CAD layout data" Proc.Symposium on LSI Testing. 99-104 (1997)
复制标题
K.Miura：“通过从 VLSI CAD 布局数据中连续提取电路来实现自动 EB 故障跟踪系统”Proc.Symposium on LSI 测试。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
