光過渡容量分光法によるn 型GaN 中の正孔トラップ密度の高速かつ精密定量手法
光過渡容量分光法によるn 型GaN 中の正孔トラップ密度の高速かつ精密定量手法
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使用光学瞬态电容光谱法快速、精确地量化 n 型 GaN 中的空穴陷阱密度的方法
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
須田淳
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鐘ヶ江一孝;成田哲生;冨田一義; 加地徹;堀田昌宏;木本恒暢;須田淳
