Transient photocapacitance measurement for characterization of deep defects in B-doped diamond films
Transient photocapacitance measurement for characterization of deep defects in B-doped diamond films
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瞬态光电容测量用于表征 B 掺杂金刚石薄膜中的深层缺陷
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Osamu Maida and Ryosuke Yamashita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O. Maida;T. Kodama;D. Kanemoto and Tetsuya Hirose;毎田 修，兼本 大輔，廣瀬 哲也;毎田 修，兼本 大輔，廣瀬 哲也;Osamu Maida and Ryosuke Yamashita
