The shave-off depth profiling by the nano-beam SIMS
The shave-off depth profiling by the nano-beam SIMS
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利用纳米束 SIMS 进行切削深度分析
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Nihei
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Toi;A.Maekawa;T.Yamamoto;B.Tomiyasu;T.Sakamoto;M.Owari;M.Nojima;Y.Nihei
