表面X線回折によるAg/Si(111)√3x√3-B界面構造の研究
表面X線回折によるAg/Si(111)√3x√3-B界面構造の研究
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表面X射线衍射研究Ag/Si(111)√3x√3-B界面结构
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
平山博之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吉池雄作;田尻寛男;山崎詩郎;中辻寛;平山博之
