X-ray photoelectron and X-ray absorption spectroscopic study on β-FeSi2 thin films fabricated by ion beam sputter deposition
X-ray photoelectron and X-ray absorption spectroscopic study on β-FeSi2 thin films fabricated by ion beam sputter deposition
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离子束溅射沉积β-FeSi2薄膜的X射线光电子和X射线吸收光谱研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Fumitaka Esaka;et al.
