Development for accurate crystal-structure analysis of a surface-shallow layer by X-ray diffraction and its application to the epitaxial crystals of halogen-bridged platinum (II, IV) complexes
Development for accurate crystal-structure analysis of a surface-shallow layer by X-ray diffraction and its application to the epitaxial crystals of halogen-bridged platinum (II, IV) complexes
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通过 X 射线衍射对表面浅层进行精确晶体结构分析的开发及其在卤桥铂（II、IV）络合物外延晶体中的应用
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
O. Sakata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Yamanaka;D. Yamashita;M. Mitsumi;Y.Ozawa;K.Toriumi;O. Sakata
