スマートデバイス上の継続認証における認証タイミングに関する実験的検討
スマートデバイス上の継続認証における認証タイミングに関する実験的検討
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智能设备连续认证中认证时序的实验研究
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
木下集人，山崎恭
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tatsuya SUZUKI;Keita EMURA;Toshihiro OHIGASHI;Kazumasa OMOTE;木下集人，山崎恭
