Phase transmission electron microscopy with aberration correction based on active defocus modulation : dynamic observation of surface atom movement
Phase transmission electron microscopy with aberration correction based on active defocus modulation : dynamic observation of surface atom movement
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基于主动散焦调制的像差校正相透射电子显微镜：表面原子运动的动态观察
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Nishinaka;H.Yasufuku;林 俊一;安福 秀幸;H.Oikawa;T.Fujii;A.Kraus;T.Kan;Y.Takai
