Response Surface Estimates of the Cross-Sectionally Augmented IPS Tests for Panel Unit Roots
Response Surface Estimates of the Cross-Sectionally Augmented IPS Tests for Panel Unit Roots
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面板单位根横截面增强 IPS 测试的响应面估计
DOI：
10.1007/s10614-011-9309-4
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发表时间：
2011
影响因子：
2
通讯作者：
Otero J
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Otero J
本文估计了Pesaran（2007）的横截面增强IPS（CIPS）检验的大范围分位数的响应面系数，用于确定性分量的不同规格。Excel程序可用于计算与CIPS检验统计量相关的P值。© 2011 Springer Science+ Business Media，LLC。
This paper estimates response surface coefficients for a large range of quantiles of the cross-sectionally augmented IPS (CIPS) test of Pesaran (2007), for different specifications of the deterministic components. An Excel programme is available to calculate the P value associated with a CIPS test statistic.© 2011 Springer Science+ Business Media, LLC.
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