Method of Characterizing Rubbed Polyimide Film for Liquid Crystal Display Devices Using Reflection Ellipsometry
Method of Characterizing Rubbed Polyimide Film for Liquid Crystal Display Devices Using Reflection Ellipsometry
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使用反射椭圆光度法表征液晶显示装置的摩擦聚酰亚胺薄膜的方法
DOI：
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发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I. Hirosawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Hirosawa
采用反射式椭圆偏振法对液晶显示器件用聚酰亚胺摩擦膜的分子取向进行了表征。通过分析反射光的各向异性偏振态，可以确定摩擦聚酰亚胺薄膜中分子取向上层的厚度、介电常数、介电主轴的倾斜角以及随机层的厚度。
Reflection ellipsometry is applied to characterize the molecular orientation of rubbed polyimide films for liquid crystal display devices. Thickness, dielectric constants and tilt angle of the principal dielectric axis of the molecularly oriented upper layer and thickness of the random layer in rubbed polyimide films can be determined by analyzing the anisotropic polarization of reflected light.