Know Time to Die – Integrity Checking for Zero Trust Chiplet-based Systems Using Between-Die Delay PUFs
Know Time to Die – Integrity Checking for Zero Trust Chiplet-based Systems Using Between-Die Delay PUFs
复制标题
了解死亡时间 — 使用芯片间延迟 PUF 对基于零信任 Chiplet 的系统进行完整性检查
DOI：
10.46586/tches.v2022.i3.391-412
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Holcomb, Daniel
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Deric, Aleksa;Holcomb, Daniel
