Structural and optical characterization of thin AlInN films on c-plane GaN substrates
Structural and optical characterization of thin AlInN films on c-plane GaN substrates
复制标题
c 面 GaN 衬底上 AlInN 薄膜的结构和光学表征
DOI：
10.1063/5.0136004
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发表时间：
2023
影响因子：
3.2
通讯作者：
Wierer, Jonathan J.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xue, Haotian;Palmese, Elia;Song, Renbo;Chowdhury, Md Istiaque;Strandwitz, Nicholas C.;Wierer, Jonathan J.
