Library characterization and modeling for 130 nm and 90 nm SoC design

Library characterization and modeling for 130 nm and 90 nm SoC design
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130 nm 和 90 nm SoC 设计的库表征和建模

DOI：
10.1109/soc.2003.1241548
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发表时间：
2003
期刊：
IEEE International [Systems-on-Chip] SOC Conference, 2003. Proceedings.
影响因子：
--
通讯作者：
W. Roethig
W. Roethig
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
W. Roethig

文献摘要

被引文献

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本白色白皮书的相关教程介绍了130 nm和90 nm SoC设计的充分库表征和建模所面临的挑战和解决方案。
The tutorial associated with this white paper explains the challenges and solutions for adequate library characterization and modeling for 130 nm and 90 nm SoC design.