Structural characterization of defects in EFG- and HVPE-grown beta-Ga2O3 crystals
Structural characterization of defects in EFG- and HVPE-grown beta-Ga2O3 crystals
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EFG 和 HVPE 生长的 β-Ga2O3 晶体缺陷的结构表征
DOI：
10.35848/1347-4065/ac4b6b
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发表时间：
2022
影响因子：
1.5
通讯作者：
Hirotaka Yamaguchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Osamu Ueda;Makoto Kasu;Hirotaka Yamaguchi
