ジルコニウム薄膜を利用したマトリックスエンハンスト表面支援レーザー脱離イオン化質量分析法によるオランザピンの高感度検出
ジルコニウム薄膜を利用したマトリックスエンハンスト表面支援レーザー脱離イオン化質量分析法によるオランザピンの高感度検出
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使用锆薄膜的基质增强表面辅助激光解吸电离质谱法高灵敏度检测奥氮平
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大坂一生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Ozawa;I. Osaka;H. Kawasaki;R. Arakawa;大坂一生
