Detection of photo current arising from atom-thin MoS2 Schottky junction fabricated by electron beam irradiation
Detection of photo current arising from atom-thin MoS2 Schottky junction fabricated by electron beam irradiation
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电子束辐照制造的原子薄 MoS2 肖特基结产生的光电流的检测
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Haruyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Katagiri;C. Ohata;Y. Inoue;S.Maruyama;T. Nakamura;S. Katumoto;A. Ishi;M. Hasegawa;G. Fioli;S. Roche;J. Haruyama
