Applications of electron microscopy on easily e-beam damaged MOFs materials
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复制标题
电子显微镜在易电子束损伤的 MOFs 材料上的应用
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Zheng Liu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Tanimoto;H. Arai;H. Mizubayashi;M. Yamanaka;and I. Sakata;Zheng Liu
