K.Miura: "Automatic EB Fault Tracing System by Successive Circuit Extraction from VLSI CAD Layout Data" Proc.6th Asian Test Symposium. 162-167 (1997)
K.Miura: "Automatic EB Fault Tracing System by Successive Circuit Extraction from VLSI CAD Layout Data" Proc.6th Asian Test Symposium. 162-167 (1997)
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K.Miura：“通过从 VLSI CAD 布局数据中连续提取电路的自动 EB 故障跟踪系统”Proc.6th 亚洲测试研讨会。
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