Band bending effects on scanning tunneling microscope images of subsurface dopants
Band bending effects on scanning tunneling microscope images of subsurface dopants
复制标题
能带弯曲对次表面掺杂剂扫描隧道显微镜图像的影响
DOI：
--
复制
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A.Natori
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M.Hirayama;J.Nakamura;A.Natori
