シリコン半導体検出器の重イオン測定における波高欠損の研究
シリコン半導体検出器の重イオン測定における波高欠損の研究
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硅半导体探测器重离子测量脉冲高度缺陷研究
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
伊藤由太
中科院分区：
文献类型：
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作者：
石橋優一;松永壮太郎;浅井雅人;森田浩介;坂口聡志;塚田和明;佐藤哲也;伊藤由太
