N.Suzuki: "A model for analysis of XPS electron take-off angle experiments in layered structure sample : determination of attenuation length in a well-characterized Langmuir-Blodgett film." Surf. Interface Anal.(accepted).
N.Suzuki: "A model for analysis of XPS electron take-off angle experiments in layered structure sample : determination of attenuation length in a well-characterized Langmuir-Blodgett film." Surf. Interface Anal.(accepted).
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N.Suzuki：“用于分析层状结构样品中 XPS 电子起飞角实验的模型：确定充分表征的 Langmuir-Blodgett 薄膜中的衰减长度。”
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