Quantitative monitoring of InAs quantum dot growth using X-ray diffraction
Quantitative monitoring of InAs quantum dot growth using X-ray diffraction
复制标题
使用 X 射线衍射定量监测 InAs 量子点生长
DOI：
10.1016/j.jcrysgro.2013.11.012
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Takahasi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yamada;S. Nishikawa;S. Asaoka;T. Iyoda;H. Yoshida;M. Takahasi
