FI-STM investigation of the Si(111)2×1 cleaved surface
FI-STM investigation of the Si(111)2×1 cleaved surface
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Si(111)2×1 解理面的 FI-STM 研究
DOI：
10.1016/0304-3991(92)90378-w
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发表时间：
1992
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
T. Sakurai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Mera;T. Hashizume;K. Maeda;T. Sakurai
