High-resolution diffraction microscopy using synchrotron X-ray beam focused by Kirkpatrick-Baez mirrors
High-resolution diffraction microscopy using synchrotron X-ray beam focused by Kirkpatrick-Baez mirrors
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使用柯克帕特里克-贝兹镜聚焦的同步加速器 X 射线束的高分辨率衍射显微镜
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Yamauchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Takahashi;Y.Nishino;R.Tsutsumi;H.Kubo;H.Furukawa;H.Mimura;S.Matsuyama;N.Zettsu;T.Ishikawa;K.Yamauchi
