等電子トラップ技術による相補型TFET回路の特性向上
等電子トラップ技術による相補型TFET回路の特性向上
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使用等电子陷阱技术改善互补 TFET 电路的特性
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松川貴
中科院分区：
文献类型：
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作者：
森貴洋;浅井栄大;服部淳一;福田浩一;大塚慎太郎;森田行則;大内真一;更田裕司;右田真司;水林亘;太田裕之;松川貴
