Kelvin Probe Force Microscope Observation of Donors' Arrangement in Si Transistor Channel
Kelvin Probe Force Microscope Observation of Donors' Arrangement in Si Transistor Channel
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硅晶体管沟道中施主排列的开尔文探针力显微镜观察
DOI：
10.4028/www.scientific.net/amr.1117.82
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Michiharu Tabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Krzysztof Tyszka;Daniel Moraru;Takeshi Mizuno;Ryszard Jablonski;Michiharu Tabe
