測定精度の偏り軽減のための等質適応型テストの提案
測定精度の偏り軽減のための等質適応型テストの提案
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提出同质自适应测试以减少测量精度偏差
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮澤芳光，宇都雅輝，石井隆稔，植野真臣
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masaki Uto;Maomi Ueno;宮澤芳光，宇都雅輝，石井隆稔，植野真臣
