A reliability factor for surface structure determinations by low-energy electron diffraction
A reliability factor for surface structure determinations by low-energy electron diffraction
复制标题
低能电子衍射确定表面结构的可靠性因子
DOI：
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发表时间：
1977
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F. Jona
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. Zanazzi;F. Jona
