Bi2-xSbxTe3-ySey薄膜の電子輸送特性：量子振動とHall測定から見た表面電子占有率の評価
Bi2-xSbxTe3-ySey薄膜の電子輸送特性：量子振動とHall測定から見た表面電子占有率の評価
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Bi2-xSbxTe3-ySey 薄膜的电子传输特性：通过量子振动和霍尔测量评估表面电子占有率
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷垣勝己
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松下ステファン悠;市村翔;Khuong Kim Huynh;田邉洋一;谷垣勝己
