First-principles study of leakage current throught thin SiO_2 films
First-principles study of leakage current throught thin SiO_2 films
复制标题
SiO_2薄膜漏电流的第一性原理研究
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kikuji Hirose
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Daisuke Nakagawa;Katsuhiro Kutsuki;Tomoya Ono;Kikuji Hirose
