M.Yamada, N.Zui, T.Chu: "Defect-induced birefringence in crystalline silicon ingots"European Physical Journal Applied Physics. (in press). (2004)
M.Yamada, N.Zui, T.Chu: "Defect-induced birefringence in crystalline silicon ingots"European Physical Journal Applied Physics. (in press). (2004)
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M.Yamada、N.Zui、T.Chu：“晶体硅锭中缺陷引起的双折射”欧洲物理杂志应用物理学。
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