Direct bandgap measurements in a three-dimensionally macroporous silicon 9R polytype using monochromated transmission electron microscope

Direct bandgap measurements in a three-dimensionally macroporous silicon 9R polytype using monochromated transmission electron microscope
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使用单色透射电子显微镜直接测量三维大孔硅 9R 多型体

DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子：
4
通讯作者：
van
van
中科院分区：
物理与天体物理2区
文献类型：
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作者：
L.Gu;Y.Yu;W.Sigle;N.Usami;S.Tsukimoto;J.Maier;Y.Ikuhara;PA.Aken;van

文献摘要

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