簡易診断を目指した次世代チップの開発
簡易診断を目指した次世代チップの開発
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开发用于简单诊断的下一代芯片
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
竹中繁織
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C-H. Lee;J.M. Oh;J-D. Lee;H. Nakamura;S.O. Kang;竹中繁織
