微结构对Ce掺杂BiFeO3薄膜漏电流和电阻开关的影响

微结构对Ce掺杂BiFeO3薄膜漏电流和电阻开关的影响
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DOI:
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发表时间:
2011
期刊:
Journal of Physics D: Applied Physics
影响因子:
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通讯作者:
李润伟
李润伟
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
朱小健;诸葛飞;李蜜;尹奎波;刘宜伟;左正笏;陈斌;李润伟

文献摘要

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